インサーキットテスターは、基板を動作させることなく、個々の部品の特性を微小電力で電気的に検査を行う装置です。
これにより、目視検査で発見が困難な不良を確実に発見できます。
《検出可能な不良例》
● はんだによるショート・オープン不良
● 抵抗・コンデンサ・コイル等の定数間違いによる不良
● 抵抗・コンデンサ・コイル・ダイオード・トランジスタ等の部品欠品不良
● SOP・QFP ICのリード浮き不良

ボードテスターは、ICTの機能に加え、基板に電源を供給しICまたは回路の論理動作、及び電圧測定、周波数測定など動作を検査することができます。
また、バウンダリスキャン検査にも対応しており、高機能デバイスの実装検査を容易にします。
《検出可能な不良例》
●ICT検出不良
●ICの異品・実装違いによる不良
●ICの動作不良
●ICの部品欠品不良
●回路ブロックの動作不良（電圧、周波数異常など）
●複合信号（アナログ⇔デジタル信号変換）の不良

ファンクションチェッカーは、基板に電源を印加し外部接続端子より信号を入出力することにより、実際の動作に近い状態で機能検査をすることができる装置です。
検査装置は、基板の動作仕様を基に、制御/計測機器を構成し必要な検査プログラムを作成します。
《検出可能な不良例》
●基板回路の電気的動作不良
●搭載部品の異品・実装違いによる不良
●搭載部品の動作不良
●部品の部品欠品不良