ICT （インサーキットテスター：In-circuit Tester）

インサーキットテスターは、基板を動作させることなく、個々の部品の特性を微小電力で電気的に検査を行う装置です。
これにより、目視検査で発見が困難な不良を発見できます。
Fixture部分を製品毎に製作（外製）。

検出可能な不良例

• はんだによるショート・オープン不良
• 抵抗・コンデンサ・コイル等の定数間違いによる不良
• 抵抗・コンデンサ・コイル・ダイオード・トランジスタ等の部品欠品不良
• SOP・QFP ICなどのリード浮き不良

適用範囲

テスト用プローブが接触可能な基板設計がされている小～大規模回路基板

簡易チェッカー

小規模の回路基板に電源を投入し回路動作を検査。
パソコンI/Oボード又は、マイコン等による専用回路を作成

検出可能な不良例

• 基板回路の電気的動作不良
• 搭載部品の異品・実装違いによる不良
• 搭載部品の動作不良
• 部品の部品欠品不良

適用範囲

アナログ、デジタルの簡単な回路の動作試験
I/O論理、信号仕様が単純である基板に適用

マイコン制御型汎用実装基板検査装置　GPFIT(General Purpose Functional Inspection Tool）

GPFITは、自社開発の検査用マイコン基板を組み込み、製品の電気的な機能検査を行う装置です。
製品検査は、製品に電源を印加しマイコンにより入出力信号を制御、判定し機能検査を行います。
製品個々の検査プログラムは本体メモリーに格納し、製品ごとの接続治具を本体に接続することで自動的にプログラムが選択されます。
マイコン制御により作業者による操作や判断がなくなり、作業性の向上、検査時間短縮、検査の信頼性が期待できます。

検出可能な不良例

• 基板回路の電気的動作不良
• 搭載部品の異品・実装違いによる不良
• 搭載部品の動作不良
• 部品の部品欠品不良

適用範囲

外部制御が可能な小～中規模回路基板

FCT （ファンクションチェッカー：Function Checker）

ファンクションチェッカーは、製品に特化した検査回路、計測装置を組み合わせ高度な機能検査をすることができる装置です。
検査装置は、基板の動作仕様・検査仕様を基に、制御/計測機器を構成し必要な検査プログラムを作成します。

検出可能な不良例

• 基板回路の電気的動作不良
• 搭載部品の異品・実装違いによる不良
• 搭載部品の動作不良
• 部品の部品欠品不良

適用範囲

マイコン、FPGAなどが搭載された小～大規模回路基板

実機検査機

お客様よりお借りする実機を使用し、実際の動作環境で検査。

検出可能な不良例

• 動作チェック内容による

適用範囲

お客様から提供して頂く検査仕様に基づく

総括